荧光分析法是以什么定律为基础的
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比：Ii=IsWi （2）式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据式（2），可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。
用于分离和测量初始X射线激发产生的分立的特征波长的技术，被称为X射线荧光光谱学。X射线荧光光谱学提供了一个用测量其特征X射线辐射波长或能量来确定元素种类的定性分析方法，同时测量辐射的特征谱线的强度，然后把这一强度和元素的浓度联系起来，即可进行给定元素的定量分析。
分子荧光的发生主要包括三过程：分子的激发；分子去活化；荧光的发生。
荧光分析法：利用荧光的物理特性而进行定性与定量测定的方法。荧光法比紫外可见灵敏。荧光光度计：激发光源、样品池、检测器、滤光片和单色器。红外分光光度法 红外线：波长大于0.76um，小于500um的电磁波。Hooke定律来描述分子的伸缩振动。当分子的振动频率与入射的红外频率相同时，分子对红外产生吸收。
